Оптические и оптико-электронные приборы
контроля, наблюдения и измерений

Установка для контроля оптической однородности заготовок из инфракрасных материалов

Установка для контроля оптической однородности заготовок из инфракрасных материалов Установка для контроля оптической однородности заготовок из инфракрасных материалов

Назначение: отбраковка плоских заготовок из инфракрасных материалов, предназначенных для работы в спектральных диапазонах 3...5 мкм, 8...14 мкм по параметру "оптическая однородность".

Установка реализует два метода измерения оптической однородности: интерферометрический (по превышению волновых аберраций заданного порога) и дифрактометрический (по снижению коэффициента передачи контраста эталонным объективом с установленной перед ним заготовкой).

Основные технические характеристики контроля
интерферометрическим способом
Длина волны, мкм 3,39; 10,6
Диаметр контролируемых заготовок, мм 150...350
Размах волновой ошибки на рабочей длине волны 0,1λ



Основные технические характеристики контроля
дифрактометрическим способом
Спектральный диапазон, мкм 3,6...4,9
Относительное отверстие эталонного объектива 1:05
Диаметр контролируемых заготовок, мм 150...350
Частота тест-объектов, лин/мм 16, 12, 8, 4
Погрешность измерения коэффициента
передачи контраста, ед.контр.
не более 5



Тех.информация:

E-mail: market@niioep.ru
Вензель Владимир Иванович
Тел.: 8(81369) 68859