ГлавнаяПродукцияОптические и оптико-электронные приборы контроля, наблюдения и измеренийУстановка для контроля оптической однородности заготовок из инфракрасных материалов

Оптические и оптико-электронные приборы
контроля, наблюдения и измерений

Установка для контроля оптической однородности заготовок из инфракрасных материалов диаметром до 350 мм

Установка для контроля оптической однородности заготовок из инфракрасных материалов Установка для контроля оптической однородности заготовок из инфракрасных материалов

Назначение: отбраковка плоских заготовок из инфракрасных материалов, предназначенных для работы в спектральных диапазонах 3...5 мкм, 8...14 мкм по параметру "оптическая однородность".

Установка реализует два метода измерения оптической однородности: интерферометрический (по превышению волновых аберраций заданного порога) и дифрактометрический (по снижению коэффициента передачи контраста эталонным объективом с установленной перед ним заготовкой).

Основные технические характеристики контроля
интерферометрическим способом
Длина волны, мкм 3,39; 10,6
Диаметр контролируемых заготовок, мм 150...350
Размах волновой ошибки на рабочей длине волны 0,1λ

Основные технические характеристики контроля
дифрактометрическим способом
Спектральный диапазон, мкм 3,6...4,9
Относительное отверстие эталонного объектива 1:5
Диаметр контролируемых заготовок, мм 150...350
Частота тест-объектов, лин/мм 16, 12, 8, 4
Погрешность измерения коэффициента
передачи контраста, ед.контр.
не более 5



Контактная информация

E-mail: market@niioep.ru

Погудина Наталия Владимировна
E-mail: pogudinanv@niioep.ru


Технические вопросы:
Вензель Владимир Иванович
Тел.: 8(81369) 68859