«РџР°С‚енты»

Патент на изобретение и Свидетельство РФ о государственной регистрации программы для ЭВМ

НИИ ОЭП получил Патент на изобретение и Свидетельство РФ о государственной регистрации программы для ЭВМ.

Изобретение "Способ определения мелкомасштабных деформаций волнового фронта светового пучка" (патент № 2830845, авторы Сиразетдинов В.С., Дмитриев И.Ю., Линский П.М., Никитин Н.В.) относится к области оптики и может быть использовано для характеристики световых пучков, формируемых оптическими элементами и системами. Деформации волнового фронта таких пучков определяются качеством изготовления оптических элементов и систем. Изобретение может найти свое применение при контроле качества оптических систем или оптических элементов в процессе их изготовления. Технической проблемой, которую решает изобретение, является определение мелкомасштабных деформаций волнового фронта светового пучка в широком диапазоне пространственных частот с высокой точностью и достоверностью. Технический результат, который может быть достигнут при осуществлении заявленного способа, заключается в определении мелкомасштабных деформаций волнового фронта светового пучка в широком диапазоне пространственных частот с высокой точностью и достоверностью.

Программа BorVision (свидетельство № 2024687686, автор Филиппов В.Г.) предназначена для управления устройством перемещения пинольной бабки с пробным стеклом для измерения радиуса кривизны этого стекла на измерительной машине типа ИЗМ. Программа позволяет визуализировать изображения шкал двух штатных микроскопов ИЗМ (автоколлимационного и отсчётного); формировать маркер, привязанный к неподвижной шкале отсчётного микроскопа и задающий начальную точку отсчёта; формировать маркер, привязанный к подвижной шкале пинольной бабки микроскопа; рассчитывать и подавать сигнал на двигатель, перемещающий измеряемое стекло, до совмещения подвижного маркера с неподвижным; компенсировать погрешность перемещения, связанную с дисторсией оптической системы, формирующей изображение шкалы отсчётного микроскопа.