«»

Получены новые патенты

НИИ ОЭП получил новые патенты - на изобретение и на полезную модель.

Изобретение "Интерферометр с функцией дифференциальных измерений" (патент № 2744847, авторы Вензель В.И., Семенов А.А., Соломин С.О., Муравьева Е.С.) относится к области измерительной техники, к измерительным устройствам, характеризующимся оптическими средствами измерений, и может быть использовано для определения формы волнового фронта, а также для определения дифференциального (относительного) изменения формы волнового фронта, отраженного от поверхности оптических элементов, в том числе асферических. Технический результат - расширение функциональных возможностей интерферометра путем обеспечения работы в нескольких режимах: амплитудном, фазовом и муаровом при увеличении диапазона измерения дифференциальных аберраций оптических поверхностей и увеличении точности работы в амплитудном режиме.

Полезная модель "Инфракрасная система кругового обзора" (патент № 203118, авторы Павлов Н.И., Прилипко А.Я., Старченко А.Н.) относится к оптико-электронному приборостроению, в частности, инфракрасным системам кругового обзора. Технический результат заключается в обеспечении инфракрасной системой кругового обзора большего времени стабилизации изображения на фоточувствительной поверхности МФПУ и увеличения дальности работы при простоте конструкции системы.