Оптические и оптико-электронные приборы
контроля, наблюдения и измерений

Установка для контроля оптической однородности заготовок из инфракрасных материалов диаметром до 350 мм

Назначение: отбраковка плоских заготовок из инфракрасных материалов, предназначенных для работы в спектральных диапазонах 3...5 мкм, 8...14 мкм по параметру "оптическая однородность".

Установка реализует два метода измерения оптической однородности: интерферометрический (по превышению волновых аберраций заданного порога) и дифрактометрический (по снижению коэффициента передачи контраста эталонным объективом с установленной перед ним заготовкой).

Основные технические характеристики контроля интерферометрическим способом
Длина волны, мкм	3,39; 10,6
Диаметр контролируемых заготовок, мм	150...350
Размах волновой ошибки на рабочей длине волны	0,1λ

Основные технические характеристики контроля дифрактометрическим способом
Спектральный диапазон, мкм	3,6...4,9
Относительное отверстие эталонного объектива	1:5
Диаметр контролируемых заготовок, мм	150...350
Частота тест-объектов, лин/мм	16, 12, 8, 4
Погрешность измерения коэффициента передачи контраста, ед.контр.	не более 5

Контактная информация
E-mail: market@niioep.ru Погудина Наталия Владимировна E-mail: pogudinanv@niioep.ru	Технические вопросы: Вензель Владимир Иванович Тел.: 8(81369) 68859
Отправить сообщение