ГлавнаяПресс-центрКонференции и выставки

Конференции и выставки



КОНФЕРЕНЦИЯ "ПРИКЛАДНАЯ ОПТИКА-2006"
октябрь 2006 г., Санкт-Петербург

На конференции "Прикладная оптика - 2006", прошедшей в Санкт-Петербурге 16-20 октября в рамках Международного оптического конгресса "Оптика-ХХI век", были широко представлены доклады сотрудников НИИКИ ОЭП:

  1. Л.А. Глущенко, А.М. Корзун, Н.И. Павлов, А.С. Сакян, А.М. Силантьев, А.Н. Старченко, Н.А. Ступак. Методический подход к оценке возможностей приборов ночного видения на основе объединения ЭОП и ПЗС-матрицы. [pdf, 180 KB)
  2. А.С. Гридин, канд. техн. наук; И.Ю. Дмитриев, канд. техн. наук; В.Н. Васильев. Влияние пеленгационных характеристик и разброса чувствительности элементов фотоприёмника на распределение пороговой чувствительности оптико-электронного прибора. [pdf, 230 KB)
  3. Г.И. Ясинский, Н.И. Павлов; А.Б. Бельский (Красногорский завод им. С.А.Зверева, г. Красногорск). Малогабаритный авиационный сканер для дистанционного зондирования земной поверхности. [pdf, 800 KB)
  4. Л.А. Глущенко, А.М. Корзун, Н.И. Павлов, А.Н. Силантьев, В.В. Янчук. Определение вероятности распознавания алфавитно-цифровой информации на экране монитора. [pdf, 260 KB)
  5. Н.И. Павлов, Е.Э. Эльц. Исследование температурных аномалий, обусловленных заглубленными в грунт инородными объектами. [pdf, 170 KB)
  6. В.Е. Сабинин, С.В. Солк, С.Е. Шевцов. Аппаратура для климатических испытаний малогабаритных оптических элементов. [pdf, 120 KB)
  7. А.Ф. Аушев, А.Г. Бедрин, А.П. Гурьев, С.П. Дашук. Пространственное распределение светового поля широкоформатного излучателя. [pdf, 790 KB)
  8. Е.И. Дмитриев, О.К. Филиппов, В.Г. Филиппов. Устройство для измерения спектрального коэффициента пропускания оптических элементов. [pdf, 180 KB)
  9. И.Л. Ловчий, С.А. Вицинский; М.К. Ярмаркин (Санкт-Петербургский Государственный Политехнический Университет). Волоконно-оптический измерительный преобразователь напряжения. [pdf, 215 KB)
  10. И.Л. Ловчий. Численное моделирование параметров поляриметрических волоконно-оптических датчиков магнитных и электрических полей, сравнение с экспериментальными данными. [pdf, 270 KB)
  11. Е.В.Калашников, С.Н.Рачкулик. Поляризационный интерферометр. [pdf, 190 KB)
  12. Г.П. Анастасиади, А.П. Гагарин, В.С. Макин; П. Конс ("Диоспек", D-53179 Бонн, Германия). Влияние деформированного состояния на инфракрасную поглощательную способность тантала. [pdf, 140 KB)
  13. Ю.И. Пестов, В.С. Макин. Изучение динамики лазерно-индуцированного формирования острийного выступа рельефа на поверхности кремния. [pdf, 220 KB)
  14. Е.И. Логачева, В.С. Макин; П. Конс ("Диоспек", D-53179 Бонн, Германия). Роль поверхностных плазмон-поляритонов в поглощении излучения тонкими металлическими проволочками. [pdf, 180 KB)
  15. В.А. Воробьев, В.С. Макин; Чунле Гуо (Институт Оптики Рочестерского университета, Нью Йорк 14627,США). Наноструктурирование поверхности металла и формирование резонансных микроструктур под действием фемтосекундных импульсов поляризованного излучения. [pdf, 270 KB)
  16. В.И.Салин. Оценка чувствительности к "мягкому" рентгеновскому излучению тонкопленочных фотоприемников CdSe и As2S3. [pdf, 160 KB)
  17. А.Г. Бедрин, В.Г. Докучаев, С.В. Лаврентюк. Фотостимулированный распад радиационных центров окраски в протяженных образцах стекол. [pdf, 185 KB)
  18. М.Ф. Данилов, С.В. Солк, А.А. Яковлев. Алмазное микроточение. Координатные преобразования асферических поверхностей. [pdf, 205 KB)
  19. Н.О. Раба, Н.И. Щербакова. Программа для вычисления спектральной энергетической яркости безоблачного неба. [pdf, 230 KB)
  20. Л.А. Глущенко, В.Ю. Матвеев, Т.П. Малинова., В.М. Тосенко, Н.И. Щербакова. Программа расчета вероятности обнаружения рассеянного лазерного излучения, вышедшего из окна помещения. [pdf, 230 KB)
  21. К.Ю. Романов, А.Н. Старченко, В.Г. Филиппов, Н.И. Щербакова. Программы расчета спектральных функций пропускания атмосферы в диапазоне от 0,3 до 14 мкм для горизонтальных и наклонных трасс. [pdf, 305 KB)
  22. Т.П. Малинова, В.Ю. Матвеев, Н.И. Павлов, Н.О. Раба. Имитационный математический полигон для исследования и разработки оптико-электронных систем. [pdf, 230 KB)